Servicio de Espectroscopía de Fluorescencia de Rayos X (XRF)
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Contacto:
Geól. Patricio Andrade
Email:
xrftandil@ifas.exa.unicen.edu.ar
Whatsapp:
Postal:
IFAS-FCEx-UNICEN
Pinto 399
Tandil 7000
Argentina
Fundamentos
La técnica de XRF se basa en el análisis de la fluorescencia emitida por los elementos que componen una muestra al ser excitados mediante radiación X. La composición espectral de la fluorescencia es específica cada elemento (como una huella dactilar), lo que permite su identificación y cuantificación a partir de los patrones de fluorescencia de la muestra
Aplicaciones
La técnica de XRF se utiliza ampliamente para el análisis elemental de muestras en una gran diversidad de campos, entre los que se destacan:
Industria y materiales: metalurgia, electrónica, análisis de polímeros, industria del vidrio y cerámica, materiales de construcción y cementos.
Energía y química: industria de combustibles y lubricantes, petroquímica, fertilizantes y agroquímicos.
Ciencias de la Tierra: geología, minería, exploración y prospección de yacimientos y sedimentología.
Medio ambiente y Residuos Sólidos Urbanos: estudios ambientales, análisis de suelos contaminados, barros y efluentes, residuos industriales y domiciliarios, monitoreo de calidad del agua y aire.
Salud, alimentos y farmacia: análisis de alimentos y bebidas, control de calidad farmacéutico, detección de metales pesados en productos de consumo, cosméticos, alimentos para animales.
Ciencias forenses, patrimonio y arqueología: Permite identificar y cuantificar elementos en evidencias (residuos de disparo, pinturas, metales) y en artefactos arqueológicos, facilitando el análisis de procedencia, composición, autenticidad y procesos de degradación sin dañar las muestras.
Tipos y preparación de muestras
La preparación de las muestras es sencilla, rápida y segura, tanto para sólidos, polvos compactos, polvos sueltos, líquidos, lodos y sedimentos, gránulos, filtros de aire y contaminación por micropartículas, películas y recubrimientos, etc.
Dependiendo el tipo y presentación de muestras, pueden prepararse perlas fundidas (fusión de la muestra en una matriz de borato) como así también pastillas prensadas en celulosa. En algunos casos, la muestra puede ser analizada sin preparación previa, constituyendo así un ensayo no destructivo y permitiendo la recuperación de la muestra post ensayo.
Equipamiento
Para la detección de los analitos de interés se utiliza un espectrómetro de fluorescencia de rayos X por dispersión en energía Malvern Panalytical modelo Epsilon 4. Este equipo cuenta con un juego de muestras patrón para calibración (Wroxi) y de la aplicación standardless Omnian, que permite análisis rápidos de muestras desconocidas, para las que no se cuenta inicialmente con un patrón calibrado. El análisis de una muestra requiere pocos minutos. El análisis es no destructivo.
El Epsilon 4 computa la composición elemental concentraciones en peso tan bajas como traza (ppm) hasta 100%.